HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)

HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)功能和組成

葉面積測量，自動辨別葉片損傷或病變面積，種子和根尖記數(shù)，圖形轉(zhuǎn)換、儲存和編輯。

使用照相分析，樣品圖像通過CCD 攝像機成像，然后由圖像截獲卡送到計算機中，圖像分析軟件對樣品圖像進行分析處理。

組成：
圖像截獲卡：PCI 接口，用來俘獲影像數(shù)據(jù)供計算機處理；
CCD 攝像機：對樣品進行攝影成像；
圖像分析軟件：對樣品的圖像進行分析處理，P133 以上，英文WIN3.1、WIN95，98 系統(tǒng)；

HemiView植物圖像分析系統(tǒng)特點：

·交互式圖示定位工具：精準(zhǔn)記錄的圖像半球縱坐標(biāo)系統(tǒng)。補償磁場偏差；

·支持圖像分類：強度區(qū)分界限和干擾像素。圖像按照實時更新分類；

·圖像可多重和拆分查看：分類和色彩/灰色等比率查看，或?qū)⒄鶊D像拆分開瀏覽；

·圖像底片：圖像可轉(zhuǎn)換為底片模式進行查看和分析；

·可給不同的天空區(qū)域定義號碼：天頂角和方位角定義范圍；

·單個樹的葉面積：直接可通過HemiView輸出單個樹的LAI；

·分析局部圖像：可以將圖像中不需要參與分析的部分排除；

·地點，鏡頭和太陽模型的參數(shù)：用戶可設(shè)定地點，鏡頭和太陽模式應(yīng)用到任何一個圖像中，方便從列表中選擇；

·定義鏡頭的特點：鏡頭方程是當(dāng)用戶使用了當(dāng)前鏡頭和老款類型提供的ΔT；

·輸出：分析結(jié)果可輸出為Excel兼容表格格式或文本格式；

·自定義輸出參數(shù)：用戶可根據(jù)不同的圖像定義不同的輸出參數(shù)。

HemiView葉面圖像分析系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)

1、可測量物體的最大尺寸：平板掃描：400×370 mm；傳送掃描：250×290 mm；
2、彩色CCD 攝像頭，681×582 pixels；
3、測量面積精度：≤4%；
4、圖象采集卡取樣頻率：實時取樣，1/ 25 秒（50Hz）；
5、圖象分析軟件分辨率：512×512 pixels，24 bit；
6、傳送裝置速率：60/100/140/190 mm/s；
7、傳送裝置樣品最大寬度為250mm，最大厚度為5mm；
8、帶有使卷曲葉片平展的聚丙烯片；
9、攝像機鏡頭支架高度：1150 mm；